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[实用新型]一种老化测试系统-CN202220286152.2有效
发明人：李新强;曾泉;苏鹏 -专利权人：天芯互联科技有限公司
申请日： 2022-02-11 - 公布日： 2022-11-08 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本申请公开一种老化测试系统。老化测试系统包括：测试控制平台和老化测试装置；老化测试装置内具有放置空间，放置空间内用于放置待检测产品；测试控制平台与老化测试装置耦接；测试控制平台对老化测试装置的老化测试参数进行调控，以对放置空间内的待检测产品进行老化测试通过上述方案可以使得该老化测试装置的可以适用于对不同类型的待测试产品进行老化测试。
一种老化测试系统

[发明专利]一种液晶模组老化测试系统-CN202210061821.0在审
发明人：张登琦;张郁川;李璟林 -专利权人：业成科技（成都）有限公司;业成光电（深圳）有限公司;业成光电（无锡）有限公司;英特盛科技股份有限公司
申请日： 2022-01-19 - 公布日： 2022-05-31 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明涉及一种液晶模组老化测试系统。该液晶模组老化测试系统包括：老化测试板，用于与液晶模组连接，并对液晶模组进行老化测试；老化测试板具有WiFi模块；及老化监控服务器，WiFi模块通讯连通，WiFi模块用于向老化监控服务器传送老化测试数据，老化监控服务器用于对液晶模组的老化测试数据进行实时监控。上述液晶模组老化测试系统，液晶模组与老化测试板连接之后进行老化测试，老化测试过程中，利用WiFi模块实时地将老化测试数据传送至老化监控服务器，从而利用老化监控服务器对液晶模组的老化测试过程进行实时监控，能够及时发现器件不良现象，有利于避免液晶模组和老化测试板损坏，排除由于发热而产生明火的安全隐患。
一种液晶模组老化测试系统

[发明专利]芯片老化测试系统、方法及装置-CN201910975198.8在审
发明人：不公告发明人 -专利权人：珠海亿智电子科技有限公司
申请日： 2019-10-14 - 公布日： 2020-01-21 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明适用于芯片测试技术领域，提供了一种芯片老化测试系统、方法及装置，该提供的芯片老化测试系统包括上位机、与上位机连接的控制板，以及与控制板连接的测试板，上位机从老化测试请求中选择一个未执行过的老化测试项目作为测试板的当前老化测试项目，并向控制板发送与当前老化测试项目对应的老化测试命令，控制板上与老化测试命令对应的控制模块向测试板发送测试控制命令，测试板上的测试模块接收并执行测试控制命令，以完成当前老化项目的测试，当测试板执行完所有老化测试项目时，上位机输出老化测试结果，从而实现了对多个芯片老化测试项目的自动测试，提高了测试效率，降低了测试成本。
老化测试测试板控制板上位机芯片老化测试控制命令测试系统发送测试成本测试模块测试项目测试效率控制模块芯片测试自动测试老化测试输出

[发明专利]一种老化测试系统-CN201810890432.2在审
发明人：崔闪闪;王敏;张冲 -专利权人：合肥品特电子有限公司
申请日： 2018-08-07 - 公布日： 2018-11-13 - 主分类号： G01N17/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种老化测试系统，包括待测机、老化架、老化房；所述待测机与所述老化架通信连接；所述待测机在进入老化架时，自动进入老化程序测试，当所述待测机经过所述老化架的老化测试后，进行抽样，再放入老化房进行老化测试本发明可以通过老化架实现对待测机老化测试的自动化测试，提高测试效率和精确度，经过老化架的测试后，再进行抽样经过老化房的测试，多重老化测试，防止将存在问题的产品包装卖出，保障了产品的质量。
老化架老化测试待测机老化房老化测试系统测试抽样自动化测试测试效率产品包装老化程序通信连接放入

[发明专利]一种芯片老化测试系统及方法-CN202310287247.5有效
发明人：陈孝金 -专利权人：深圳市宇芯数码技术有限公司
申请日： 2023-03-23 - 公布日： 2023-06-13 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明属于芯片测试领域，涉及数据分析技术，用于解决现有的芯片老化测试系统无法根据老化测试的结果数据为芯片生成优化的使用参数的问题，具体是一种芯片老化测试系统及方法，包括老化测试平台，所述老化测试平台通信连接有干扰处理模块、老化测试模块、应用优化模块以及存储模块；所述干扰处理模块用于在芯片测试之前对芯片测试现场进行环境检测分析；所述老化测试模块用于对芯片进行老化测试：将待进行老化测试的芯片标记为测试对象；本发明可以在芯片进行老化测试之前对老化测试环境进行预处理，通过鼓风机与冷气空调等外接设备对老化测试环境进行温度、湿度的调节，将外部环境对老化测试结果的影响降到最低。
一种芯片老化测试系统方法

[发明专利]老化测试监控方法及装置-CN201511026129.0在审
发明人：何鹏 -专利权人：深圳市创维电器科技有限公司
申请日： 2015-12-30 - 公布日： 2016-04-20 - 主分类号： H04L12/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种老化测试监控方法，包括：老化测试监控装置接收终端设备发送的老化测试状态信息，终端设备为已经在老化测试监控装置注册成功的设备；老化测试监控装置保存终端设备的老化测试状态信息。本发明还公开了一种老化测试监控装置。本发明通过确定终端设备为在老化测试监控装置注册成功的设备后，该老化测试监控装置接收终端设备发送的老化测试状态信息，并保存该终端设备的老化测试状态信息。本发明不需要人工记录老化测试状态信息，解决了终端设备的老化测试具有局限性的问题。
老化测试监控方法装置

[发明专利]一种循环老化测试和数据收集的方法、系统及介质-CN202011437031.5在审
发明人：李园园 -专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司
申请日： 2020-12-07 - 公布日： 2021-04-09 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明公开了一种循环老化测试和数据收集的方法，包括部署测试环境；根据老化测试配置信息选择老化测试程序，执行老化测试；循环检测老化测试时是否出现异常；若老化测试时未出现异常，则计算测试时间；判断测试结果日志文件或老化测试时是否出现异常；若测试结果日志文件中存在异常关键字，或老化测试时出现异常，则保留当前测试环境；若测试结果日志文件中不存在异常关键字及老化测试时未出现异常，且累计测试时间小于总测试时间，则进入下轮老化测试；进行数据收集；本发明能够针对服务器进行循环老化测试和测试数据收集，优化测试自动部署、循环测试和数据交互机制，为服务器测试中的长时间定时循环老化测试需求提供极大的便利性。
一种循环老化测试数据收集方法系统介质

[实用新型]老化测试设备-CN202020226133.1有效
发明人：于洪懿;范振东;赵佳明;王星 -专利权人：歌尔科技有限公司
申请日： 2020-02-27 - 公布日： 2020-10-30 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种老化测试设备，包括设备本体、多个老化供电模组以及测试载具，设备本体内设置有多个测试工位，各老化供电模组对应设于各测试工位上，测试载具设于老化供电模组上，其中，测试载具包括壳体以及设于壳体内的充电模组，待测试产品装设于壳体上，并与充电模组连接，且充电模组与老化供电模组连接，以使老化供电模组对待测试产品进行充电，即通过老化供电模组对测试载具上的待测试产品进行自动充电，以对待测试产品进行老化测试，从而提高老化测试设备的老化供电测试效率；并且，在进行老化测试过程中不需人工测试，即可以减少人为因素对老化供电测试结果的影响，使测试结果的准确性更高。
老化测试设备

[发明专利]网络设备的老化测试方法及装置-CN201811390601.2有效
发明人：张胜强 -专利权人：杭州迪普科技股份有限公司
申请日： 2018-11-21 - 公布日： 2020-09-08 - 主分类号： H04L12/26 文献下载
摘要：本说明书提供一种网络设备的老化测试方法及装置，所述方法包括：在网络设备上电时，读取预先写入网络设备的存储介质中的老化标志位；其中老化标志位记录的老化测试时间；若老化标志位的取值处于设定数值范围内，则启动对网络设备的老化测试流程；根据老化测试时间对网络设备进行老化测试，获得老化测试结果。上述方法，使得操作人员可以在老化测试现场之外对网络设备的老化测试时间等测试条件批量化设置，设置完成后将网络设备移入老化测试现场上电即可自动进行老化测试，提升了对网络设备的老化测试的效率和安全性。
网络设备老化测试方法装置

[实用新型]一种电源快速老化模块-CN202023116970.8有效
发明人：崔升学 -专利权人：中山市莱志照明科技有限公司
申请日： 2020-12-22 - 公布日： 2021-09-17 - 主分类号： G01R31/40 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种电源快速老化模块，包括老化架，还包括安装在老化架上的老化测试托盘，老化架上设置有老化架导电触点，老化测试托盘上设置有与老化架导电触点电性连接的托盘导电触点，在安装或者拆卸待老化测试件时，先将老化测试托盘取下，然后将待老化测试件安装到老化测试托盘的内部或者从老化测试托盘的内部拆卸下来，耗时短，并且简单方便。
一种电源快速老化模块

[发明专利]老化测试箱-CN201010187310.0有效
发明人：沈冲;王斌;陈剑晟;羡迪新;陈驰;高建辉 -专利权人：北京新润泰思特测控技术有限公司
申请日： 2010-05-27 - 公布日： 2010-10-13 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种老化测试箱，包括设置于所述老化测试箱的测试板上的多个老化测试插座，第一温度传感器以及加热器，所述第一温度传感器检测所述老化测试箱内的温度，得到第一温度值，所述加热器根据所述第一温度值与老化测试箱的温度设定值启动或关闭，其中，所述老化测试箱内至少设置有一个具有交换器的盖板，所述盖板与待老化测试器件之间设置有第二温度传感器，所述第二温度传感器检测待老化测试器件的温度，得到待老化测试器件的实际温度值，根据待老化测试器件的实际温度值与待老化测试器件的温度设定值对待老化测试器件进行单独的热交换处理本发明的老化测试箱提高了老化测试结果的准确性，实现了多种不同器件的同时老化测试。
老化测试

[实用新型]老化测试箱-CN201020207504.8有效
发明人：沈冲;王斌;陈剑晟;羡迪新;陈驰;高建辉 -专利权人：北京新润泰思特测控技术有限公司
申请日： 2010-05-27 - 公布日： 2011-01-19 - 主分类号： G01R1/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种老化测试箱，包括设置于所述老化测试箱的测试板上的多个老化测试插座，第一温度传感器以及加热器，所述第一温度传感器检测所述老化测试箱内的温度，得到第一温度值，所述加热器根据所述第一温度值与老化测试箱的温度设定值启动或关闭，其中，所述老化测试箱内至少设置有一个具有交换器的盖板，所述盖板与待老化测试器件之间设置有第二温度传感器，所述第二温度传感器检测待老化测试器件的温度，得到待老化测试器件的实际温度值，根据待老化测试器件的实际温度值与待老化测试器件的温度设定值对待老化测试器件进行单独的热交换处理本实用新型的老化测试箱提高了老化测试结果的准确性，实现了多种不同器件的同时老化测试。
老化测试

[实用新型]一种空间可调式灯具老化测试房-CN201721551879.4有效
发明人：高寒冰;叶胜益;徐海东;王锐;潘骥 -专利权人：倍科质量技术服务（昆山）有限公司
申请日： 2017-11-20 - 公布日： 2018-07-03 - 主分类号： G01R31/44 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种空间可调式灯具老化测试房，包括测试房、自动隔墙、老化间、吊具、顶棚、测试吊仓、测试架、伺服电机、老化测试台；所述测试房顶装有顶棚，所述顶棚内横向配置有多个测试吊仓，所述测试房内通过自动隔墙、可调节宽度分隔出多个老化间；所述老化间顶棚上的测试吊仓内，装配有吊具，所述吊具通过吊索升降式配有多层测试架，所述测试房一侧配有老化测试台，所述老化测试台上设置有触控屏、测试仪表和操控按钮；本新型采用可调节空间大小的老化间，并配置可升降式吊测试架；实现空间体积可调节的灯具老化测试房，提高灯具老化测试准确性和老化测试效果；自动化程度高，满足各种批量灯具的老化测试需求，节约能源。
老化测试灯具顶棚测试房可调节老化吊仓吊具测试空间可调式老化测试台测试架隔墙吊索操控按钮测试仪表多层测试横向配置可升降式伺服电机触控屏升降式分隔房顶装配自动化节约能源配置

[发明专利]IC老化测试方法、装置、计算机设备和存储介质-CN202310140826.7在审
发明人：钟清水;王少花 -专利权人：优普士电子（深圳）有限公司
申请日： 2023-02-15 - 公布日： 2023-04-21 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种IC老化测试方法、装置、计算机设备和存储介质，包括建立和IC老化测试板以及老化测试炉的信号通信连接，所述IC老化测试板上的每个IC测试单元为单独控制，显示所述IC老化测试板的测试控制界面，所述测试控制界面包括启停控制功能、参数设定功能、遮罩功能、测试结果显示功能和状态信息显示功能，根据所述控制界面上的功能控制所述IC老化测试板的老化测试过程；建立控制终端或PC端与IC老化测试板以及老化测试炉之间的信号通信连接，通过功能齐全的人机交互界面对IC老化测试过程进行控制，可以提高IC老化测试的智能性和准确度。
ic 老化测试方法装置计算机设备存储介质

[实用新型]一种功率芯片老化测试分选装置-CN202222909526.4有效
发明人：郑勇;邓保建 -专利权人：苏州华益微电子有限公司
申请日： 2022-11-02 - 公布日： 2023-03-24 - 主分类号： B07C5/34 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种功率芯片老化测试分选装置，属于芯片老化测试技术领域，包括分选机以及老化测试座，所述分选机上开设有竖板，所述老化测试座设置在竖板之间，所述老化测试座侧边固定安装有滑块，所述竖板上开设有滑道，所述滑块滑动设置在滑道上，所述老化测试座下方设置有复位弹簧，所述复位弹簧端部分别与老化测试座以及分选机壳体固定安装且复位弹簧压持在老化测试座与分选机壳体之间，所述老化测试座上固定安装有压块，所述老化测试座上滑动设置有挡板，该功率芯片老化测试分选装置能够将测试完成后的芯片自动弹出老化测试座，解决了人工将芯片取出费时费力，测试效率低的问题。
一种功率芯片老化测试分选装置

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